可靠性試驗一般用于產(chǎn)品研發(fā)初期、試產(chǎn)階段以及終的量產(chǎn)大量銷售階段。可靠性試驗主要用于驗證產(chǎn)品在規(guī)定測試條件、規(guī)定測試時間、規(guī)定的實現(xiàn)功能條件下的驗證試驗類型。

可靠性試驗的目的是什么？

1、發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計、材料和工藝方面的各種缺陷；

2、為改善產(chǎn)品的戰(zhàn)備完好性、提高任務(wù)成功率、減少維修保障費用提供信息；

3、確認(rèn)是否符合規(guī)定的可靠性定量要求。

可靠性試驗有哪些分類？

1、按測試環(huán)境條件劃分,分為各種應(yīng)力條件下的模擬試驗和現(xiàn)場試驗；

2、按試驗項目劃分，分為：環(huán)境試驗、 壽命試驗、加速試驗和各種特殊試驗；

3、按試驗?zāi)康膭澐郑譃楹Y選試驗、鑒定試驗和驗收試驗；

4、若按試驗性質(zhì)劃分，分為破壞性試驗和非破壞性試驗兩大類。

5、通常慣用的分類法，是把它歸納為五類: 環(huán)境試驗、壽命試驗、篩選試驗、 現(xiàn)場使用試驗、鑒定試驗。

我方可靠性試驗室可以提供下列的環(huán)境可靠性試驗項目檢測服務(wù)并出具檢測報告：

1.可編程控制器設(shè)備（GB/T15969.2-2008，IEC61131-2:2007）

1.1耐干熱和干冷試驗

1.2機械試驗

2.電工電子類設(shè)備

2.1低溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007

2.2高溫試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T2423.2-2008 ，IEC60068-2-2:2007

2.3恒定濕熱試驗

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy: 恒定濕熱主要用于元件的加速試驗 GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分： 試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2006，IEC 60068-2-78：2001

2.4交變濕熱試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)） GB/T2423.4-2008，IEC 60068-2-30:2005

2.5振動試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fi: 振動 混合模式 GB/T 2423.58-2008，IEC 60068-2-80:2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則 GB/T 2423.56-2006，IEC 60068-2-64:1993

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦） GB/T 2423.10-2008，IEC 60068-2-6:1995

2.6溫度變化

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

2.7溫度/濕度組合循環(huán)

環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012，IEC 60068-2-38:2009

2.8跌落

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995，IEC 60068-2-32:1990

2.9機械沖擊

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-1995，IEC 60068-2-27:1987

2.10碰撞

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995 ，IEC 60068-2-29:1987

2.11傾跌與翻倒

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒 (主要用于設(shè)備型樣品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982

2.12砂塵

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗L：沙塵試驗 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994

2.13鹽霧

人造氣氛腐蝕試驗 鹽霧試驗 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T 2423.17-2008，IEC60068-2-11:1981

2.14溫度沖擊

環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009

2.15外殼防護

外殼防護等級（IP代碼） GB 4208-2008，IEC 60529:2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則 GB/T 2423.38-2008，IEC 60068-2-18:2000

2.16低溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.35-2005，IEC 60068-2-50:1983

2.17高溫/振動(正弦)綜合試驗

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-2005，IEC 60068-2-51:1983

2.18溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合 GB/T 2423.59-2008

2.19（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合GB/T 2423.102-2008

2.20可靠性試驗

設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案 GB/T 5080.7-1986，IEC 60605-7:1978

設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗 GB/T 5080.6-1996 ，IEC 60605-6:1989

設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案 GB/T 5080.5-1985 ，IEC 60605-5:1982

設(shè)備可靠性試驗 可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法 (指數(shù)分布) GB/T 5080.4-1985，IEC 60605-4:1978

可靠性試驗 第2部分：試驗周期設(shè)計 GB/T 5080.2-2012，IEC 60605-2:1994

可靠性試驗 第1部分：試驗條件和統(tǒng)計檢驗原理 GB/T 5080.1-2012，IEC 60300-3-5:2001

3.運輸包裝件（GB/T4857.2－2005，ISO 2233:2000）

3.1低溫試驗（GB/T4857.2－2005，ISO 2233:2000）

3.2高溫試驗（GB/T4857.2－2005，ISO 2233:2000）

3.3恒定濕熱試驗（GB/T4857.2－2005）

3.4振動試驗

包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分:隨機振動試驗方法 GB/T 4857.23-2012，ASTM D4728:2006

包裝 運輸包裝件基本試驗 第7部分：正弦定頻振動試驗方法 GB/T 4857.7－2005，ISO 2247:2000

3.5跌落

包裝 運輸包裝件 編制性能試驗大綱的定量數(shù)據(jù) GB/T 4857.18-1992，ISO 4180-2:1980

包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法 GB/T 4857.5-1992 ，ISO 2248:1985

3.6碰撞

包裝 運輸包裝件碰撞試驗方法 GB/T 4857.20－1992

3.7靜載荷堆碼

包裝 運輸包裝件基本試驗 第3部分：靜載荷堆碼試驗方法 GB/T 4857.3-2008 ，ISO 2234:2000

4.汽車電氣設(shè)備（QC/T413-2002）

4.1低溫試驗

4.2高溫試驗

4.3溫度/濕度組合循環(huán)

4.4振動試驗

4.5溫度變化

4.6鹽霧

4.7外殼防護

5.電子測量儀器（GB/T 6587-2012）

低溫試驗

高溫試驗

恒定濕熱試驗

振動試驗

跌落

機械沖擊

6.微型計算機（GB/T 9813-2000）

6.1低溫試驗

6.2高溫試驗

6.3恒定濕熱試驗

6.4振動試驗

6.5跌落

6.6機械沖擊

6.7碰撞

6.8可靠性

7.軍用設(shè)備

7.1低溫試驗

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫貯存試驗 GJB 4.4-1983

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 低溫試驗 GJB 4.3-1983

軍用電子測試設(shè)備通用規(guī)范 GJB 3947A-2009

軍用計算機通用規(guī)范 GJB 322A-1998

軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 GJB 367A－2001

軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗 GJB 150.4A-2009

7.2高溫試驗

艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗GJB 4.2-1983

電子及電氣元件試驗方法 &n