GSM雙模測試卡、CDMA雙模測試卡、WCDMA測試卡，3G測試卡，TD-LTE測試卡、4G測試卡(又稱白卡)，使用于通訊工業(yè)生產的信號測試。常用于GSM測試卡、CDMA測試卡、WCDMA測試卡，3G測試卡，TD-LTE、4G手機，配合綜合測試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡對手機進行無干擾綜合測試；手機在生產中需要對成品進行相關信號測試，卻要進行大規(guī)模屏敝，需動用更多的人力物力及測試時間，使生產工藝繁雜及成本增加，測試卡可以實現(xiàn)信號至儀器到手機的路徑，讓測試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。GSM測試卡、CDMA測試卡、WCDMA測試卡，3G測試卡，TD-LTE測試卡、4G測試卡可進行偶合測試，誤碼率測試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測儀測試等。

二．產品適用的測試儀器的品牌：

適用安捷倫、安立、羅德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等國外、國內的各種測試儀器以及自建的網(wǎng)絡等。

三：產品品質保證：

我們公司的GSM、CDMA測試卡，2G雙模測試卡采用國際半導體廠商生產的專用芯片，3V/5V兼容5-6觸點兼容設計，適合一切手機.、配以專用COS系統(tǒng)，遵從3G對手機，SIM卡的各項規(guī)范特殊的半導體硅襯，保證卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（GSM標準為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產線使用，采用超長壽命EEPROM，保證讀寫次數(shù)在10萬次以上。（3G標準只要求3萬次，按一般生產線測量要求，每部手機的讀寫次數(shù)為10次，可測一萬部手機。），專利芯片保護層，保證卡片，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時浸泡試驗）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時以上。75度溫度沖擊試驗.

我公司產品經(jīng)國家集成電路卡注冊中心授權使用進口三星等若干芯片[授權范圍：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx帶觸點IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化學性、觸點電特性均已通過國家電子計算機質量監(jiān)督檢驗中心及信息產業(yè)部IC卡質量監(jiān)督檢驗中心檢驗合格，具有性的品質保證。