X-RAY膜層測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無(wú)損測(cè)量薄鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量.為了使每次測(cè)量都能在的條件下進(jìn)行,儀器配備了可電動(dòng)調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)值器及基本濾片.無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測(cè)量.并且有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時(shí)間。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

1.測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件

2.測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層

3.測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

4.全自動(dòng)測(cè)量,如測(cè)量印刷線路板

期待您的來(lái)電，錦霖 鄧先生 公司網(wǎng)址：