MOS電路老化測試夾具

該系列夾具供貼片封裝的CMOS、PMOS集成電路的老化、測試、篩選作連結(jié)之用(間距1.27mm)。

產(chǎn)品型號及規(guī)格；

GLB-14 GLB-18 GLB2-18J

主要技術(shù)指標(biāo)；

間距；1.27mm

環(huán)境溫度；-55℃—+155℃ 接觸電阻；≤0.01歐

工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg

彈片金層厚度；2umAu:lu(鎳金）