DIP封裝集成電路老化測(cè)試座

該系列插座適用于DIP封裝的雙列直插式集成電路的老化、測(cè)試、篩選及可靠性試驗(yàn)作連接之用。該產(chǎn)品廣泛運(yùn)用于航空航天、軍工、科研院所、電子、通訊

產(chǎn)品型號(hào)及規(guī)格；

IC-8J～I(xiàn)C-64J

主要技術(shù)指標(biāo)；

間距；2.54mm

環(huán)境溫度；-55℃—+155℃

接觸電阻；≤0.01歐

工作電壓；DC500V

單腳插入力；≤0.2Kg

彈片金層厚度；1um鎳2um金

插拔壽命；高低溫狀態(tài)下插拔壽命；2000-3000次