蔡司X射線顯微鏡 X射線計算機斷層掃描成像領(lǐng)域面臨的兩大挑戰(zhàn)是:實現(xiàn)大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優(yōu)勢解決了這些挑戰(zhàn):系統(tǒng)可提供高功率的X射線源,
優(yōu)異的4D/原位解決方案
蔡司Xradia 600 Versa系列能夠在可控環(huán)境下進行材料3D無損微觀結(jié)構(gòu)表征的動態(tài)過程。憑借Xradia Versa在大工作距離下仍可保持高分辨率成像的特性,可將樣品放置到樣品艙室或高精度原位加載裝置中進行高分辨率成像。Versa可與蔡司其它顯微鏡無縫集成,解決多尺度成像方面的挑戰(zhàn)。
蔡司 Xradia 610 Versa
蔡司 Xradia 620 Versa
空間分辨率a
500 nm
500 nm
大工作距離下的高分辨率
(RaaD?)a,b(50mm工作距離下)
1.0 μm
1.0 μm
zui小可實現(xiàn)的體素c
(zui大放大倍率下樣品的體素大小)
40 nm
40 nm
X射線源電壓范圍
30–160 kV
30–160 kV
X射線源zui大輸出功率
25 W
25 W
Scout-and-Scan?控制系統(tǒng)
?
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Scout-and-Zoom
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垂直拼接
?
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XRM Python API
?
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自動X射線濾光片轉(zhuǎn)換器(AFC)
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高縱橫比斷層掃描(HART)
?
雙掃描襯度可視化系統(tǒng)(DSCoVer)
?
寬場模式
0.4x
0.4x 和 4x
蔡司LabDCT衍射襯度斷層掃描
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蔡司自動進樣裝置
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原位接口套件
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蔡司OptiRecon
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蔡司ZEN Intellesis
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ORS Dragonfly Pro
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