HY（SL）三輪測試儀主要用于對帶芯片的智能卡進(jìn)行測試?？ū环诺綑C(jī)器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力的壓力為8N。經(jīng)過測試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
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