電子產(chǎn)品在儲存、運輸和使用過程中，經(jīng)常受到周圍環(huán)境的各種有害影響，如影響電子產(chǎn)品的工作性能、使用可靠性和壽命等。影響電子產(chǎn)品的環(huán)境因素有：溫度、濕度、大氣壓力、太陽輻射、雨、風、冰雪、灰塵和沙塵、鹽霧、腐蝕性氣體、霉菌、昆蟲及其他有害動物、振動、沖擊、地震、碰撞、離心加速度、聲振、搖擺、電磁干擾及雷電等。

對環(huán)境因素的研究主要解決兩個基本問題：①如何取得這些環(huán)境因素的客觀數(shù)據(jù)；②如何處理這些數(shù)據(jù)。客觀環(huán)境因素的數(shù)據(jù)通?？梢圆糠值貜臍庀蟓h(huán)境保護部門取得，但更多的必須通過實測獲得。要使實測數(shù)據(jù)既具有可靠性又有典型性，除需要有完善的調(diào)查測試方案外，還必須有能連續(xù)、快速和多點記錄的儀器。所取得的客觀環(huán)境數(shù)據(jù)，如有足夠長的記錄時間，則可按出現(xiàn)頻率進行統(tǒng)計分析。對于要求特別可靠的產(chǎn)品可取客觀環(huán)境數(shù)據(jù)的極值，甚至是統(tǒng)計推斷的極值，以保證產(chǎn)品在使用中萬無一失。對于要求可靠性高的產(chǎn)品，可取客觀環(huán)境數(shù)據(jù)出現(xiàn)概率為 1%的數(shù)值。對于一般要求的產(chǎn)品，可取客觀環(huán)境出現(xiàn)概率為 5%，甚至為10%的數(shù)值。如客觀環(huán)境數(shù)據(jù)記錄時間不夠長，就要運用數(shù)理統(tǒng)計知識對其進行處理。例如，小氣候?qū)崪y調(diào)查資料可用相關(guān)法延長而推算出歷史上可能有的數(shù)據(jù)；又如，機械振動實測調(diào)查資料，可采用包絡線法、功率頻譜分析法或用時間序列建模法，推算各種概率數(shù)值的可能性，然后根據(jù)產(chǎn)品的可靠性要求程度取所需的數(shù)據(jù)。