UT Smart數(shù)字式超聲探傷儀leeb530

概述UT Smart leeb530數(shù)字式超聲探傷儀能夠快速便捷、無損傷、地進行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位、評估及診斷，廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工、航空航天、鐵路交通、汽車、機械等領(lǐng)域。

主要功能

l檢測范圍：零界面入射0～1000；

l儀器校準(zhǔn)自動化，可測量材料厚度和材料聲速；

l菜單式操作模式，直顯式操作提示，簡潔明了，讓操作者可快速掌握儀器操作；

l閘門報警：門位、門寬、門高任意可調(diào)，閘門可選擇設(shè)置進波報警或失波報警，閘門內(nèi)蜂鳴聲；

l缺陷定位：實時顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置，方便對缺陷直接定位；

l缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工判斷；

lDAC/AVG：曲線自動生成，取樣點不受限制，并可進行補償與修正。曲線隨增益自動浮動。能顯示任意孔徑的AVG曲線；

l波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析；

l板厚輸入：輸入工件厚度，二次波三次波的缺陷儀器顯示缺陷實際深度，并對波形為幾次波實時提示；

l焊縫圖示：顯示焊縫坡口形式和聲速走向，直觀顯示缺陷位置；

l內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)：可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，滿足各行業(yè)探傷需求；

l探頭工作方式：直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探傷；

l數(shù)據(jù)存儲：16組探傷參數(shù)通道（通過回放復(fù)制存儲文件，可將參數(shù)通道擴充至300個），可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù)，自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn)；可存儲300幅探傷回波信號及參數(shù)，實現(xiàn)存儲、讀出及通過USB接口傳輸。利用計算機客戶端軟件，可快速自動生成探傷報告;

l通訊接口：USB2.0高速通訊傳輸接口，、穩(wěn)定、可靠、快捷。

特點

小巧、輕便、便攜，適合野外、高空作業(yè)。

技術(shù)參數(shù)

名稱

技術(shù)數(shù)據(jù)

掃描范圍（mm）

0～1000

垂直線性誤差

＜3%

水平線性誤差

＜0.1%

探傷靈敏度余量

≥50dB

動態(tài)范圍

>36dB

分辨率

>36dB

頻率范圍（MHz）

0.5～10MHz

增益調(diào)節(jié)（dB）

0～110dB

材料聲速（m/s）

1000～9999

脈沖移位

0～5000mm

回波抑制

0～90%

適用探頭

直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭

顯示方式

5.0″真彩顯示

工作溫度（℃）

-25℃～50℃

工作電壓

4.2VDC~220AC交流適配器

連續(xù)工作時間

>12小時

外形尺寸（mm）

162mm(長)Χ105mm(寬)Χ40mm(高)

重量（Kg）

0.68Kg(含電池)

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