ZESTRON? COATING LAYER TEST用于檢測(cè)電子組裝件局部涂覆層失效的化學(xué)測(cè)試
為了保證電子組裝件的環(huán)境可靠性和對(duì)有害氣體的防護(hù),業(yè)界一般會(huì)使用涂覆工藝。而涂覆工藝的可靠性,主要取決于涂覆層的均一性,即涂覆層不出現(xiàn)空洞或分層等失效。尤其在焊點(diǎn)邊緣和孔道等常發(fā)失效區(qū)域,缺失合適的涂覆層,會(huì)對(duì)終電路板組裝產(chǎn)生不良影響。
ZESTRON涂覆分層測(cè)試,利用顯色反應(yīng)可視化地顯示出涂覆層的失效,甚至適用于微米涂覆層。此外,該測(cè)試是快速無(wú)損的,額外提供了測(cè)量涂覆層厚度的標(biāo)準(zhǔn)化方法。因此,該測(cè)試也可用于生產(chǎn)過(guò)程中的低成本采樣監(jiān)控。
ZESTRON?Coating Layer Test的主要優(yōu)勢(shì):
快速、簡(jiǎn)單、性?xún)r(jià)比高,非破壞性測(cè)試方法
更(相比于黑光/UV檢測(cè))? 可檢測(cè)更薄涂層
涂覆測(cè)試是汽車(chē)OEM廠商驗(yàn)證規(guī)范的必要環(huán)節(jié)
可顯示涂覆層失效和邊緣缺失
避免在出現(xiàn)邊緣覆蓋問(wèn)題時(shí)進(jìn)行昂貴的切割
可用于可焊性測(cè)試(尤其是THT通孔元件)
檢測(cè)涂覆層失效