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高速電路電源完整性設計面臨的挑戰(zhàn)

2022-10-20 06:52:08  384 次瀏覽

目前高速電路電源完整性面臨著低電壓供電的芯片集成度越來越高,PCB設計向高速高密度發(fā)展,PDN去耦電容優(yōu)化難度增加,大電流下的電熱協(xié)同分析等各種挑戰(zhàn)。為了能夠保證系統(tǒng)的穩(wěn)定運行,為芯片提供穩(wěn)定的電源和電流,提高電源質量,降低系統(tǒng)的總體電源阻抗,提高產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。集成電路沿摩爾定律發(fā)展的趨勢為當代電子系統(tǒng)的電源分配網(wǎng)絡(PDN)設計與電源完整性(PI)分析提出了日益嚴峻的挑戰(zhàn):

1.低電壓供電的芯片集成度越來越高

電壓越低,每個器件引腳上需要的電流就越大,就會導致直流壓降越大,電壓越低,控制壓降的要求就越嚴,典型的電壓要求通常為±5%,這就意味著允許的直流壓降更小。器件集成度越高,集成電路周圍的走線就會越密,從而導致電源網(wǎng)絡中的電流密度更高,直流壓降也更大。

2.PCB設計向高速高密度發(fā)展

目前,PCB線路板上的空間越來越小,信號走線越來越密,沒有多少地方可實現(xiàn)寬敞的電源平面。這樣的結果是,電源平面和地平面都會被其他網(wǎng)絡過孔周圍的反焊盤所穿透。由于層面有很多孔洞,顯然可供電流流動的路徑就會變得更細,因此,電源平面的電阻就會變得更大,導致直流壓降也更大。

3.PDN去耦電容優(yōu)化難度增加

在高速PCB設計中,去耦電容起著重要的作用,它的放置位置也很重要。這是因為在電源向負載短時間供電中,電容中的存儲電荷可防止電壓下降,如電容放置位置不恰當可使線阻抗過大,影響供電。同時電容在器件的高速切換時可濾除高頻噪聲。我們在高速PCB設計中,一般在電源的輸出端和芯片的電源輸入端各加一個去耦電容,其中靠近電源端的電容值一般較大(如10μF),這是因為PCB中我們一般用的是直流電源,為了濾除電源噪聲電容的諧振頻率可以相對較低,同時大電容可以確保電源輸出的穩(wěn)定性。對于芯片接電源的引腳處所加的去耦電容來說,其電容值一般較?。ㄈ?.1μF),這是因為在高速芯片中,噪聲頻率一般都比較高,這就要求所加去耦電容的諧振頻率要高,即去耦電容的容值要小。

電源的PDN系統(tǒng)要求每個系統(tǒng)元件都能得到正常工作電壓,那么就要對電源進行阻抗控制。只要電源阻抗控制在目標阻抗以下,那么電壓傳輸就會有一個良好的性能保障。而實際設計中,PDN上連接了種類數(shù)量眾多的各種去耦電容器,它們是PDN重要的組成部分,幾乎就決定了PDN的質量。PDN能有效地抑制噪聲到底需要多少個電容?這些電容放置在哪?怎么安裝?如何在保證電源良好的性能基礎上,通過刪減電容來減輕PCB布局的緊張,進而還能節(jié)約設計成本是電源完整性分析的一大挑戰(zhàn)。

4.大電流下的電熱協(xié)同分析

隨著芯片的集成度越來越高,芯片電源的供電電流越來越大,無源鏈路上產(chǎn)生的功率損耗也越來越大。此部分的損耗會以熱的方式呈現(xiàn)出來,從而導致熱設計風險,同時無源鏈路也會受到溫度的影響,所以大電流下的電熱協(xié)同分析就顯得特別重要。

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