本實驗室擁有目前國際*先進的X射線斷層掃描坐標(biāo)測量機，該機首次將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng)，實現(xiàn)復(fù)雜部件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸的高精度測量和內(nèi)部三維空間成像分析，可對塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)核心部件進行全無損檢測、裝配評估、逆向工程應(yīng)用等。